同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀

性能

同惠TH2851系列 精密阻抗分析儀

A.  高精度

自動平衡電橋技術(shù)的應(yīng)用，得以在10Hz-130MHz頻率、1mΩ-100M的阻抗范圍內(nèi)都能達(dá)到理想的測量精度，其中z高精度達(dá)0.08%，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于射頻反射測量法的阻抗分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀的精度。

B.  高穩(wěn)定性和高一致性

下圖是在速度5、測試頻率1MHz，測量100Ω電阻的曲線，由下圖可見其軌跡噪聲≦0.003%（≦±0.0015Ω）

C.  高速度

D.  10.1寸大屏，四種測量參數(shù)，讓細(xì)節(jié)一覽無遺

10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率，Windows10系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN、VGA/HDMI接口，帶來的是無以倫比的操作便捷性。

大屏幕帶來更多的好處是，可以把所有測試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕，而且看起來絕不擁擠和雜亂，同時可以顯示四種測量參數(shù)，四種測量參數(shù)任意可調(diào)。屏幕左邊的按鈕可以快捷選擇8套測試參數(shù)

E.  增強(qiáng)的列表掃描功能

可以z多設(shè)置1601點(diǎn)的列表掃描，每個點(diǎn)可以單獨(dú)設(shè)置測試頻率、測試電壓、直流偏置等測試條件。

F.  強(qiáng)大的分析圖形界面

z多通道可以z多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法

G.分段掃描功能

z多可以4通道同時顯示，每個通道可以z多顯示4條曲線。通道和曲線各有十四種分屏顯示方法。分段掃描是在一個掃描周期內(nèi)，設(shè)置不同的頻率分段進(jìn)行掃描，掃描時可設(shè)置不同的電平及偏置，掃描結(jié)果直接圖形顯示，用于需要快速篩選多個頻率段參數(shù)的掃描需求。

如晶體諧振器需要測試標(biāo)稱諧振/抗諧振頻率以及其他雜散頻率，通過分段掃描共呢個可在特定頻率范圍內(nèi)掃描測量，無需掃描不相關(guān)頻率。

H.強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力

TH2851系列精密阻抗分析儀具有強(qiáng)大的光標(biāo)分析能力，可以通過光標(biāo)實(shí)現(xiàn)如下功能：

1. 讀取測量結(jié)果的數(shù)值（作為絕對數(shù)值或者相對于參考點(diǎn)的相對值）

2. 查找曲線上的特定點(diǎn)（光標(biāo)查找）

3. 分析曲線測量結(jié)果，計算統(tǒng)計數(shù)據(jù)

4. 使用光標(biāo)值修改掃描范圍以及縱坐標(biāo)縮放

TH2851 可以在每條曲線上顯示 10 個光標(biāo)，包括了參考光標(biāo)。

每個光標(biāo)有一個激勵值（坐標(biāo)系 X 軸對應(yīng)的數(shù)值）和響應(yīng)值（坐標(biāo)系 Y 軸對應(yīng)的數(shù)值）。

光標(biāo)查找功能允許搜索下列條件測量點(diǎn)：z大值、z小值

峰谷值： 峰值（極大值）、谷值（極小值）、光標(biāo)左側(cè)z近的峰谷值、光標(biāo)右側(cè)z近的峰谷值、多重峰谷值

目標(biāo)值： 距離光標(biāo)z近的目標(biāo)值、光標(biāo)左側(cè)z近的目標(biāo)值、光標(biāo)右側(cè)z近的目標(biāo)值、多重目標(biāo)值

G.強(qiáng)大的圖形分析功能

1） 曲線分選功能

可以對掃描曲線全部或者部分區(qū)域的測試值進(jìn)行合格/不合格判斷，常用于諧振曲線刷選如壓電元件等諧振頻率篩選。

2）等效電路分析測試

現(xiàn)實(shí)生活中不同類型的器件可以被等效成簡單的三參數(shù)四種模型、四參數(shù)三種模型的阻抗器件，等效電路分析測試功能提供了7種基本的電路模型用于等效這些器件。

可以通過仿真的等效電路參數(shù)值的阻抗擬合曲線與實(shí)際測量的阻抗曲線進(jìn)行對比，還可以通過您輸入的參數(shù)按照所選擇的模型進(jìn)行擬合。

等效的電路模型可以直接輸出成TXT文檔方便用戶保存使用

3） 晶體振蕩器分析

對壓電陶瓷等晶體進(jìn)行測量以及性能分析，測量計算后獲取晶體的諧振頻率、反諧振頻率、品質(zhì)因數(shù)等重要參數(shù)。

4） 曲線軌跡對比

曲線軌跡對比用于對被測件進(jìn)行連續(xù)測量，所有曲線顯示在同一個坐標(biāo)系中。由下列兩種應(yīng)用：

a) 針對多種不同被測件

對比不同測量條件下的曲線軌跡

設(shè)置不同的頻率點(diǎn)，計算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測量值

b) 針對同一個被測件

對比同一個條件下測量的多次測量結(jié)果重復(fù)性

設(shè)置不同頻率點(diǎn)，計算出所有曲線在該頻率點(diǎn)的測量值。

F.標(biāo)配附件

F.選配附件