簡要描述:日置絕緣電阻測試儀ST5680電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案,通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)準(zhǔn)確檢查絕緣性能,驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量
產(chǎn)品分類
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品牌 | HIOKI/日本日置 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
日置絕緣電阻測試儀ST5680
特點(diǎn)
直流耐壓絕緣電阻測試儀ST5680
電池的安全測試提供更優(yōu)化的檢測方案,通過波形分析提升電池的檢測品質(zhì)
準(zhǔn)確檢查絕緣性能,驗(yàn)證電池和電機(jī)質(zhì)量
通過波形和數(shù)值顯示有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序、對收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析、宣傳檢查的可靠性
防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出
防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測
支持廣泛的國際標(biāo)準(zhǔn)。搭載BDV(絕緣擊穿電壓)測量功能。
使用波形和數(shù)值驗(yàn)證絕緣性能【波形顯示功能】
ST5680是能夠基于各種安全標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行直流耐壓測試和絕緣電阻測試的測試儀。
不僅可以進(jìn)行PASS/FAIL的合格與否判定,也可以顯示、記錄測試時的輸出電壓波形和泄漏電流波形。
將測試可視化分析,有助于檢查的溯源。
輸出電壓和泄漏電流以波形顯示
可以通過波形確認(rèn)測試時輸出電壓或泄漏電流的動向。
在確認(rèn)波形的同時,還可按時間順序確認(rèn)電壓值、泄漏電流值、電阻值。
無需使用電腦即可進(jìn)行波形放大顯示等操作,在現(xiàn)場就能進(jìn)行詳細(xì)的分析。
波形顯示的優(yōu)點(diǎn)
有助于優(yōu)化生產(chǎn)工序
通過分析檢查時的波形,可以推斷出生產(chǎn)工序中的不良因素。通過查明不良因素,優(yōu)化生產(chǎn)工序,從而能夠提高生產(chǎn)效率。
有助于對收回的不合格產(chǎn)品進(jìn)行分析
可以把收回的不合格品與當(dāng)初出廠檢測時的波形做比對。通過優(yōu)化合格品的判定標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)一步提高生產(chǎn)質(zhì)量。
有助于宣傳檢查的可靠性
波形的記錄管理有利于檢查的可溯源性,構(gòu)筑更高品質(zhì)的檢查體系,可以提升客戶的信任。
防止因電弧放電導(dǎo)致微小故障品流出[【電弧放電檢測功能】
可以檢測因?yàn)楹附用袒蚍蹓m異物等原因發(fā)生的電弧放電。
將引起輕微絕緣不良的產(chǎn)品判斷為微小故障品,可以防止出廠后因發(fā)熱原因引起的火災(zāi)事故或故障等風(fēng)險。
防止誤判導(dǎo)致的復(fù)測【接觸檢查功能】
通過測量端子間的電容(雜散電容、被測物的電容),能判斷是否正確連接檢測對象。
防止將不合格品誤判為合格品
?測試中測試線脫落的情況
?測試部位間電阻增加的情況
例:測試線的老化、治具或高壓繼電器的老化等
可以輕松使用
?利用兩端子可以實(shí)現(xiàn)簡單的接線
適用于電池、電機(jī)、電子零件等的耐壓測試
ST5680是向測試對象輸出高電壓,測試絕緣性能的測試儀??梢詫碾娮釉O(shè)備、電子零件、材料等的研究開發(fā)到生產(chǎn)線的廣泛對象進(jìn)行安全測試。在電池中,用于電池模組、電池包、電芯的電極和外殼間的耐壓測試。
輸出電壓 Max.8 kV、輸出電流 Max.20 mA
配備了測量測試對象的泄漏電流以評估絕緣性的直流耐壓測試模式,以及測量電阻值以評估絕緣性的絕緣電阻測試模式。
在直流耐壓測試中,可輸出最大8 kV。 即使測試對象中含有電容成分,也可以通過20 mA的大容量輸出對測試對象進(jìn)行高速充電,從而縮短檢查節(jié)拍。
可以在不考慮電容成分的情況下進(jìn)行測試
就算是測試對象含有電容成分的情況下,因?yàn)橛胁灰装l(fā)生過沖的設(shè)計,不會對測試對象輸出超過設(shè)置電壓的電壓,所以可以放心進(jìn)行測試。
另外,通過配合延遲時間的設(shè)置,也可以不對充電電流流動的時間進(jìn)行判斷,從而防止誤判。
※可測量的最大靜電電容量值200 nF (測量更大的電容值可能會導(dǎo)致測量時間變長,或者測量值的偏差變大。 )
最小分辨率0.001 μA的高精度判定
隨著電池和電機(jī)等絕緣性能的提高,對判斷耐壓測試合格與否的電流值設(shè)置要求也越來越高,要求設(shè)置為更小的電流。如果使用分辨率低的耐壓測試儀,則無法準(zhǔn)確測量泄漏電流的測量值。ST5680實(shí)現(xiàn)了最小分辨率0.001uA的高精度規(guī)格,因此可以正確測量微小的泄漏電流,判斷合格與否。
搭載BDV(絕緣擊穿電壓)測量功能
搭載了確認(rèn)測試對象絕緣擊穿電壓的BDV(Break Down Voltage)功能 。
以一定速度提高輸出電壓,確認(rèn)達(dá)到絕緣擊穿時的電壓。
測試方法按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,有連續(xù)升壓測試和逐級升壓測試。
ST5680兩種測試都可以實(shí)施。可用于電池開發(fā)時的性能評價(絕緣耐力評估)。
日置絕緣電阻測試儀ST5680
基本參數(shù)(精度保證時間1年)
主要功能 直流耐壓測試、絕緣電阻測試、絕緣擊穿電壓測試、波形顯示功能、ARC放電檢測功能、
接觸檢查功能 (詳情請參照“各測試·功能"表)
功能一覽聯(lián)鎖、自動放電、消除偏移、瞬時輸出、命令監(jiān)控、I/O HANDLER、按鍵鎖定、
自檢、校準(zhǔn)期限檢測、EXT SW(遠(yuǎn)程控制)
使用溫濕度范圍 0°C~40°C,80% RH或以下(無結(jié)露)
適合標(biāo)準(zhǔn)安全性:IEC 61010
EMC:IEC 61326
電源電壓AC 100 V ~ 240 V
功耗 約180 VA※
※ 電源條件為電源電壓220 V、電源頻率 50/60 Hz、測試模式直流耐壓測試、測試電壓2.5 kV、
負(fù)載電流5 mA負(fù)載電阻500 kΩ)的情況下。
最大額定功率 800 VA
接口 通訊:USB,LAN,EXT. I/O
選件:RS-232C(Z3001),GP-IB(Z3000)
存儲:U盤
尺寸·重量 305(W)×142(H)×430(D)mm(不含突起物)
10.0 kg ± 0.2 kg
附件 電源線,CD-ROM(PDF:使用說明書,通訊使用說明書),EXT.I/O用公頭連接器,
EXT.I/O用連接器蓋EXT.I/O用聯(lián)鎖解除治具,啟動指南
各測試·功能
直流耐壓測試輸出電壓:DC 0.010 kV ~ 8.000 kV(1 V分辨率)
輸出設(shè)置精度:±(1.2% of setting + 20 V)
輸出電流/截止電流:20 mA max
電流精度(*1):3.00 mA <:±(1.5% rdg.+2 μA)≤ 3.00 mA:±1.5% rdg.
最小分辨率:0.001 μA
測試時間:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF)
電壓上升/下降時間:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF
短路電流200 mA 以上
測試模式W→IR,IR→W,程序測試
絕緣電阻測試輸出電壓:DC 10 V ~ 2000 V(1 V分辨率)
輸出設(shè)置精度:±(1.2% of setting + 20 V)
電阻值顯示范圍:100.00 kΩ ~ 200.0 GΩ(0.01 kΩ分辨率)
精度保證范圍:100.00 kΩ ~ 99.99 GΩ
電阻精度:±(1.5% rdg. + 3 dgt.)*詳情參考下部表格
測試時間:0.1 s ~ 999 s,Continue(Timer OFF)
電壓上升/下降時間:0.1 s ~ 300 s / 0.1 s ~ 300 s,OFF
絕緣擊穿電壓測試測試方法:連續(xù)升壓測試,逐級升壓測試
測量內(nèi)容:絕緣擊穿電壓(kV),絕緣擊穿的強(qiáng)度(kV/mm)
設(shè)定內(nèi)容:初始電壓,結(jié)束電壓,升壓速度,ARC檢測,電極間距離,電流上限值
波形顯示功能波形顯示內(nèi)容:電壓,電流,絕緣電阻
采樣速度:500 kS/s
內(nèi)存容量:512 K words
ARC放電檢測功能檢測方式:監(jiān)視試驗(yàn)測試電壓的變動
設(shè)定內(nèi)容:測試電壓變動率1%~50%
存儲功能·波形·圖形
保存到U盤
保存格式:BMP、PNG、CSV文件
·面板保存功能
將測試條件保存在主機(jī)內(nèi)存中
直流耐壓測試模式/絕緣電阻測試模式:最多64個
程序測試:最多30個(最多50步)
絕緣擊穿電壓測試:最多10個
·數(shù)據(jù)存儲功能
測量值保存在內(nèi)存,最多32000個
判定功能(判定輸出)判定為PASS,判定為FAIL(UPPER FAIL,LOWER FAIL)
UPPER_FAIL:測量值>上限值
PASS:上限值≥測量值≥下限值
LOWER_FAIL:測量值<下限值
注記(*1)環(huán)境溫度t不足5℃時加上±(1% rdg.×(5-t ) )
環(huán)境溫度t超過35℃時加上±(1% rdg.×(t-35 ) )
絕緣電阻測量精度(*2)(精度保證測試電壓范圍:50 V ~ 2000 V)
測試范圍100 kΩ ~ 99.99 GΩ
10 nA ≦ I ≦ 3 μA100 MΩ ~ 999.9 MΩ
1.00 GΩ ~ 99.99 GΩ±(20% rdg.)
100 nA ≦ I ≦ 30 μA10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ
100.0 MΩ ~ 999.9 MΩ±(5% rdg.)
1 μA ≦ I ≦ 300 μA1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ
10.00 MΩ ~ 99.99 MΩ±(2% rdg. + 5 dgt.)
10 μA ≦ I ≦ 3 mA100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ
1.000 MΩ ~ 9.999 MΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)
100 μA ≦ I ≦ 20 mA100.0 kΩ ~ 999.9 kΩ±(1.5% rdg. +3 dgt.)
注記(*2)
· 測試電壓為50 V?99 V時,測量精度加算±10%
· 測試電壓為100 V?999 V時,測量精度加算±5%
· 測試電壓為1000 V?2000 V時,測量精度加算±2%
· 環(huán)境溫度t小于5℃時,加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(5-t ) ),
或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(5-t ) )
· 環(huán)境溫度t超過35℃時,加上測量電流I < 100 nA:±(5% rdg.×(t-35 ) ),
或者加上測量電流I≧100 nA:±(1% rdg.×(t-35 ) )
· 測定速度為FAST2時,測量精度加倍
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